职位描述
1. 在导师指导下，开发和调试 ATE 测试程序；
2. 将芯片设计阶段的测试向量导入 ATE，完成转换、仿真与上机验证；
3. 完成 CP（晶圆测试）/ FT（成品测试）程序的离线仿真、数据检查与多工位验证；
4. 参与新产品从试产到量产的测试发布，整理良率与测试数据；
5. 分析失效数据与良率异常，输出简要结论；
6. 维护程序版本与测试文档，必要时去封测厂/实验室支持上机。任职要求
1. 硕士及以上，微电子、集成电路、电子、自动化、测控、计算机等相关专业；
2. 学过数字电路、模拟电路、半导体工艺等基础课，或接触过 DFT、嵌入式、信号处理、Python/C 中至少一类。；
3. 了解芯片测试基本概念（功能测试、参数测试、分 bin、良率）者优先，也欢迎有强学习意愿者；
4. 英语能读 datasheet、pattern 说明和测试机报错日志；
5. 细心、耐心、能抗压，可接受实验室 / 封测厂出差。
加分项：
1. 用过 Teradyne IG-XL / UltraFLEX、Advantest 93K、Chroma、NI 等任一测试平台；
2. 了解 JTAG、Scan、MBIST、eFuse、高速接口（PCIe / USB / MIPI / LPDDR）之一；
3. 会 Python / VBA / MATLAB 做日志解析、良率统计或简单自动化。
